- UHV-SPM
- Ultra High Vacuum Scanning Probe Microscopy (Academic & Science » Physics)
Abbreviations dictionary. 2012.
Abbreviations dictionary. 2012.
Rastersondenmikroskopie — Laborinstallation eines Rasterelektronenmikroskops am Institut für Physik der Universität Basel … Deutsch Wikipedia
Photoconductive atomic force microscopy — (pc AFM) is a scientific technique.. Multi layer photovoltaic cells have gained popularity since mid 1980s.[1] At the time, research was primarily focused on single layer photovoltaic (PV) devices between two electrodes, in which PV properties… … Wikipedia
Atomic force microscope — The atomic force microscope (AFM) or scanning force microscope (SFM) is a very high resolution type of scanning probe microscope, with demonstrated resolution of fractions of a nanometer, more than 1000 times better than the optical diffraction… … Wikipedia
Oberflächenanalytik — Oberflächenchemie (engl. surface chemistry, surface science) ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie, bei dem die chemischen und strukturellen Vorgänge untersucht werden, die sich an Grenzflächen, meist fest/gasförmig, abspielen. Dabei… … Deutsch Wikipedia
Microscopio de fuerza atómica — Archivo:Microscopio de fuerza atómica esquema v2.svg Diagrama de un microscopio de fuerza atómica El Microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento mecano óptico capaz de detectar fuerzas… … Wikipedia Español
Liste de sigles de trois lettres — Sigles d’une seule lettre Sigles de deux lettres Sigles de trois lettres Sigles de quatre lettres Sigles de cinq lettres Sigles de six lettres Sigles de sept lettres Sigles de huit lettres Cette page liste des sigles de trois lettres. Vous pouvez … Wikipédia en Français